Глоссарий Полупроводниковых Терминов
Инженерные определения ключевых понятий аналоговой схемотехники, интерфейсов и стандартов надежности.
RS-485 (TIA/EIA-485)
Стандарт дифференциальной передачи цифровых данных по витой паре в полудуплексном или полнодуплексном режиме, поддерживающий до 256 узлов на линии при расстояниях до 1200 метров.
Авто-Направление (Auto-Direction)
Аппаратная технология приемопередатчиков, автоматически определяющая направление передачи UART без использования сигналов управления DE/RE микроконтроллера.
Zero-Drift (Нулевой Дрейф)
Архитектура операционных усилителей с непрерывной автокалибровкой (чопперной стабилизацией), обеспечивающая напряжение смещения нуля менее 5 мкВ и дрейф менее 0.05 мкВ/°C.
CMRR (Коэффициент Ослабления Синфазного Сигнала)
Параметр дифференциального усилителя, отражающий степень подавления помех, синфазно действующих на обоих входах. У микросхем Cosine превышает 120 дБ.
PSRR (Коэффициент Подавления Пульсаций Питания)
Способность аналоговой интегральной схемы подавлять пульсации и шумы шины питания, препятствуя их проникновению в полезный сигнал.
Vos (Напряжение Смещения Нуля)
Постоянное напряжение, которое необходимо приложить к входам усилителя для получения нулевого потенциала на его выходе при отсутствии сигнала.
LDO (Linear Low-Dropout Regulator)
Линейный стабилизатор постоянного напряжения, сохраняющий стабилизацию при минимальной разнице между входным и выходным напряжением (менее 300 мВ).
Драйвер Затвора (Gate Driver)
Специализированный усилитель мощности, согласующий низковольтные логические сигналы микроконтроллера с емкостным затвором мощных транзисторов MOSFET или IGBT.
Drop-In Replacement (Прямой Аналог)
Полная функциональная и топологическая совместимость компонента с микросхемой другого производителя без изменения проводящего рисунка печатной платы.
AEC-Q100
Серия квалификационных требований и испытаний на надежность компонентов для применения в автомобильной электронике, разработанная Советом по автомобильной электронике (AEC).
HTOL (High Temperature Operating Life)
Ускоренные ресурсные испытания на срок службы интегральных схем при повышенной температуре (+125°C) под непрерывной электрической нагрузкой в течение 1000 часов.
HAST (Highly Accelerated Stress Test)
Ускоренные климатические испытания на стойкость к воздействию высокой влажности (85%) и повышенного давления при температуре +130°C.
ESD (Electrostatic Discharge)
Электростатический разряд — импульсный перенос заряда между объектами с разными потенциалами. Микросхемы Cosine выдерживают разряды до ±15 кВ.
IEC 61000-4-2
Международный стандарт, регламентирующий методики тестирования электронных приборов на устойчивость к электростатическим разрядам воздушным и контактным методами.
Fabless (Бесфабричная Модель)
Бизнес-модель компании, фокусирующейся на схемотехническом проектировании и маркетинге кремния, размещающей физическое производство на контрактных полупроводниковых заводах.
OSAT (Outsourced Semiconductor Assembly and Test)
Специализированные контрактные предприятия, осуществляющие резку пластин, монтаж кристаллов в корпуса и выходной контроль готовых микросхем.
ATE (Automated Test Equipment)
Автоматизированные измерительные комплексы для высокоскоростного многопараметрического тестирования интегральных схем при различных температурах.
Tape-Out
Финальный этап проектирования интегральной микросхемы, при котором графические файлы топологии передаются на фабрику для изготовления фотошаблонов.
BCD Техпроцесс (Bipolar-CMOS-DMOS)
Комбинированная кремниевая технология, объединяющая на одном кристалле биполярные аналоговые цепи, логику КМОП и мощные транзисторы ДМОП.
Dead-Time (Время Паузы)
Защитная временная задержка между выключением одного силового ключа полумоста и включением другого, исключающая возникновение сквозного тока короткого замыкания.